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全球半导体观察 · 材料/设备·· 9 天前AI 评分31
AI 摘要

欧康诺以平台化架构与O-STARS测试平台应对AI存储测试需求升级

AI存储测试需求升级,欧康诺以平台化与真实AI负载测试破局

导读

欧康诺推出O-STARS测试平台及“春夏秋冬”四大产品线,应对企业级SSD、HBM、CXL等高端存储的测试挑战。O-STARS平台集成MLPerf Storage与DLIO引擎,可模拟真实AI混合I/O负载;SW400内存测试平台正适配国产DDR5产品。设备支持PCIe 5.0/6.0/7.0接口,故障诊断可精确定位至Die、Rank及具体行与列。

来源:全球半导体观察 · 材料/设备 · dramx.com

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