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原文
Charged EVs· Charged EVs·· 13 天前AI 评分24
AI 摘要

基于 PXI 的故障注入与传感器仿真在电子测试中的应用

Using PXI-based fault insertion and sensor simulation in electronic test

导读

Pickering Interfaces 推出专为故障注入设计的 PXI 开关模块,以可扩展故障注入单元(FIU)替代传统手动配线盘,用于 ECU 硬件在环仿真(HILS)。

来源:Charged EVs · chargedevs.com

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