Charged EVs· Charged EVs·· 13 天前AI 评分24
AI 摘要
基于 PXI 的故障注入与传感器仿真在电子测试中的应用
Using PXI-based fault insertion and sensor simulation in electronic test
导读
Pickering Interfaces 推出专为故障注入设计的 PXI 开关模块,以可扩展故障注入单元(FIU)替代传统手动配线盘,用于 ECU 硬件在环仿真(HILS)。
来源:Charged EVs · chargedevs.com
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