Digital Metrology 发布 OmniSurf 5.0 表面粗糙度分析软件

Digital Metrology Solutions 发布 OmniSurf 5.0 表面轮廓分析软件，支持跨测量系统的表面数据分析与批量处理。新版本新增 Wavelength Content 图谱、macro wear 及 Micro Wear 等工具，并提供数百项 ISO 29210、ASME 参数。该软件提供单次授权和订阅两种许可模式。