是德科技联合格拉斯哥大学、NPL与MPI实现InP HEMT近DC至250GHz单次扫频在片表征

是德科技联合格拉斯哥大学、NPL与MPI，采用PNA-X矢量网络分析仪、Single-Sweep 250 GHz扩频模块和精密源表/测量单元，实现InP HEMT从近DC至250GHz的单次扫频连续在片表征，单次探针接触即可完成，无需多次更换测试配置。内置源滤波与宽带源功率校准保障了探针端mmWave信号的信号纯度。