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Metrology News· Keith Mills Publishing Editor·· 2 天前精选AI 评分60
AI 摘要

ETEL 推出 METIS HP 高精度气浮平台,面向半导体扫描应用

ETEL Launches High-Precision METIS HP Platform for Semiconductor Scanning

导读

HEIDENHAIN 旗下 ETEL 推出全气浮平面平台 METIS HP,面向直写光刻与高分辨率光学检测等步进扫描半导体应用。该平台采用多自由度 HEIDENHAIN 编码器,无需热漂移补偿即可实现投射工具点测量,控制器可模拟 TTL 位置信号作为触发事件,替代传统干涉仪触发方案,无需在滑架上加装反射镜,也避免空气透镜效应,成本更低。

推荐理由AI 摘要

ETEL 新平台给出 ±150 nm 精度、1 m/s 扫描速度与 20 m/s² 加速度等指标,可据此判断无掩模光刻与先进封装检测对运动平台的要求。

来源:Metrology News · metrology.news

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