热点事件持续更新AI 摘要
优可测参展IFWS&SSLCHINA 2026
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先了解这件事
综述AI 摘要
2026年10月19日，第三代半导体产业网报道，优可测确认参展将于11月16日至19日在江苏苏州召开的IFWS&SSLCHINA 2026，展位号为A30，并将携最新产品亮相。报道称，其白光干涉仪AM-8000系列XY轴测量范围最高300×300mm，平台行程提升3倍、定位精度提升50%；晶圆厚度/TTV/翘曲自动测量设备APS系列最高测量精度0.1微米，扫描速度最大300毫米每秒。目前事件进展为参展信息已公布，展会尚未召开。
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最新进展10月19日 10:18
优可测确认参展IFWS&SSLCHINA 2026，展位A30，将展出AM-8000与APS系列。报道时间线AI 摘要
沿着报道，了解事件的不同侧面。
10月19日
- 第三代半导体产业网优可测将携白光干涉仪AM-8000、晶圆量测设备APS系列亮相IFWS&SSLCHINA 2026（展位A30）
优可测确认参展11月16-19日在江苏苏州召开的IFWS&SSLCHINA 2026，展位号A30，将携最新产品亮相。其白光干涉仪AM-8000系列XY轴测量范围最高300×300mm，平台行程提升3倍、定位精度提升50%；晶圆厚度/TTV/翘曲自动测量设备APS系列最高测量精度0.1微米，扫描速度最大300毫米每秒。
本事件热度走势
当前热度 9·可比范围峰值 10（10月19日 11:00）·近 24 小时可比范围变化 –
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