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LK Metrology 升级 L100NX 激光扫描仪精度
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综述AI 摘要
2026年10月21日，Metrology News 报道 LK Metrology 宣布对 L100NX 激光线扫描仪进行规格升级。报道称，该扫描仪的形误差从 15μm 降至 10μm，点云离散度从 26μm 降至 16μm，尺寸精度从 20μm 提升至 15μm。该扫描仪采用 450nm 蓝光激光扫描技术，可快速获取高密度 3D 表面数据，适用于反光或多材料零件，并与 Focus Inspection 检测软件平台配合使用。目前进展为上述规格升级已由厂商宣布。
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最新进展10月21日 13:00
LK Metrology 宣布 L100NX 扫描仪形误差由 15μm 降至 10μm。报道时间线AI 摘要
沿着报道，了解事件的不同侧面。
10月21日
- Metrology NewsLK Metrology升级L100NX激光扫描仪，形误差降至10μm
LK Metrology宣布L100NX激光线扫描仪规格升级，形误差从15μm降至10μm，点云离散度从26μm降至16μm，尺寸精度从20μm提升至15μm。该扫描仪采用450nm蓝光激光扫描技术，可快速获取高密度3D表面数据，适用于反光或多材料零件，并与Focus Inspection检测软件平台配合使用。
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