LK Metrology升级L100NX激光扫描仪，形误差降至10μm

LK Metrology宣布L100NX激光线扫描仪规格升级，形误差从15μm降至10μm，点云离散度从26μm降至16μm，尺寸精度从20μm提升至15μm。该扫描仪采用450nm蓝光激光扫描技术，可快速获取高密度3D表面数据，适用于反光或多材料零件，并与Focus Inspection检测软件平台配合使用。