Metrology News 创刊十周年：推出 Metrology News China 网站，十年发布超 10000 篇文章
Metrology News 于 2016 年 10 月创刊，十年间累计发布超过 10000 篇文章，并在 2026 年初上线 Metrology News China 网站，将报道范围拓展至中国这一重要制造市场。过去十年，三维扫描、工业 CT、光学测量与自动化检测持续扩展制造能力，AI、机器人与互联制造系统正推动测量从成品验证走向工艺优化、自动化和闭环制造。
#测厚/面密度
#测厚/面密度
今日 0 条Metrology NewsAI 摘要AI 评分88 Metrology NewsAI 摘要AI 评分3636 Teledyne FLIR 推出 A8481 高清 MWIR 科学相机，用于微观热分析
Teledyne FLIR 发布 A8481 紧凑型高清 MWIR 科学相机，搭载 1280 × 1024 HOT MWIR SLS 探测器，像素数为 VGA A 系列相机的四倍，并保持 A67xx 平台的紧凑外形。
中国粉体网AI 摘要AI 评分2020 HORIBA入驻粉享通，展示LA-960粒径分析仪等四款检测仪器
HORIBA入驻粉享通，并展示粒径分析仪LA-960、纳米颗粒追踪分析仪ViewSizer 3000、纳米颗粒分析仪SZ-100 V2及PI-200-L在线拉曼分析仪（实验室型）四款产品。LA-960动态测量范围0.01-5000微米，精度±0.6%，标准依据ISO13320；SZ-100 V2样品浓度可达40%，支持90°和173°双角度粒径测量。
Metrology NewsAI 摘要AI 评分2222 计量快讯：Nikon 3D视觉追踪、Ajile DepthScan、Verisurf 2027等新品发布
Nikon为其机器人视觉系统新增3D视觉追踪功能，通过3D相机测量传送带上运动工件的位置与姿态。Ajile Light Industries推出DepthScan 3D检测平台，基于结构光3D成像仪，可配置为实验室、线边或在线检测。Renishaw庆祝Miskin工厂收购15周年，并完成7000万英镑扩建项目一期。
电池网AI 摘要AI 评分1212 图恩视觉确认出席并赞助支持ABEC 2026第13届电池“达沃斯”
图恩视觉确认出席并赞助支持定于2026年11月11日-13日在浙江宁波举办的ABEC 2026第13届电池“达沃斯”论坛。图恩视觉专注锂电池全制程视觉检测装备，产品覆盖隔膜、铜铝箔、复合集流体等AOI及在线测厚/测密装备与电芯段全工序检测，检测精度达微米级。其产品已批量进入国轩高科、亿纬锂能等企业供应链。
中国粉体网AI 摘要AI 评分1414 江苏天瑞仪器将携多款分析检测仪器亮相IPIE2026上海国际粉体技术工业展
江苏天瑞仪器将于10月28-30日参加IPIE2026第三届上海国际高端粉体装备与科学仪器展，展位号B5006。现场将展出EDX Thick800镀层测厚仪、EXPLORER5000便携式合金分析仪、WDX-4000顺序式波长色散X射线荧光光谱仪等多款产品。其WDX-4000符合YS/T 63.16-2019标准，可检测Be-4到U-92元素。
Metrology NewsAI 摘要AI 评分1818 虚拟量测的兴起：从检测到改进
虚拟量测正推动制造业质量控制从“检测即发货”转向“测量以改进”。该技术通过高速3D扫描或CT获取零件高保真3D数字表示，将数据采集与分析解耦，使配准方法、拟合算法等测量策略可复用。制造工程师与研发团队无需二次测量即可跨部门共享同一数据，实现数字孪生应用。 ```
Metrology NewsAI 摘要AI 评分5555 先进封装演进提升晶圆精密量测重要性，Vitrek介绍非接触测量方案
先进封装对晶圆厚度与几何形貌控制提出更高要求，Vitrek的MTI Instruments Proforma 300i和Proforma 300iSA采用电容技术进行非接触测量。
Semiconductor Engineering · MetrologyAI 摘要AI 评分5757 超越厚度测量：如何利用皮秒超声技术控制 BCD 器件的 SiCr 工艺
皮秒超声量测平台通过同步采集厚度与反射率数据，为 BCD 器件的 SiCr 薄膜沉积提供厚度之外的工艺监控信息。两种 N₂ 流量条件的晶圆演示显示，较高流量下薄膜更薄、反射率更高，后者与更平滑、致密的表面相符。反射率可作为表面形貌与粗糙度的定性指标，无需额外量测步骤即可辅助识别气流相关沉积变化及潜在工艺异常。
Mahlo NewsAI 摘要AI 评分3131 Mahlo 将亮相 CINTE 2026，展示 Qualiscan QMS 在线质量控制系统
Mahlo 将在 CINTE 2026 展示 Qualiscan QMS 在线质量控制系统及过程控制解决方案，面向无纺布生产。该系统可测量整幅材料的克重、厚度和水分，结合传感器与过程控制技术，帮助生产商及早识别工艺波动、减少浪费并保持产品质量稳定。展位位于 Hall W5 / Booth A06。
Semiconductor Engineering · MetrologyAI 摘要AI 评分7070 Onto Innovation如何利用皮秒超声技术控制BCD器件的SiCr薄膜厚度
Onto Innovation作者团队展示了皮秒超声技术用于BCD器件SiCr薄膜的无损测厚，动态重复性优于0.5Å（1σ）。团队通过一次性截面TEM校准，将该特定沉积工艺的薄膜声速确定为69.7Å/ps，再利用声学回波往返时间计算厚度。DOE厚度偏移实验及晶圆内13点采样呈现一致趋势，为腔室认证、片间与片内均匀性监控提供依据。
国家标准委 国家标准公告精选AI 摘要AI 评分6565 国家标准委批准发布《优质碳素结构钢热轧钢板和钢带》等508项推荐性国家标准及1项修改单
国家标准委批准发布《优质碳素结构钢热轧钢板和钢带》等508项推荐性国家标准和1项推荐性国家标准修改单。清单中的 GB/T 15636-2026《电离辐射厚度计》、GB/T 10575-2026《无水氯化锂》和 GB/T 13578-2026《橡胶塑料压延机》均于2026-07-02发布，2027-02-01实施。
推荐理由：公告列明电离辐射厚度计等标准的编号与实施日期，可为相关设备企业核对适用标准及安排标准切换提供时间依据。
Mahlo NewsAI 摘要AI 评分3030 Mahlo 将参展 PLAST 2026，展示塑料生产质量测量与控制系统
Mahlo 将于2026年6月9日至12日在米兰 PLAST 2026 展示质量测量与控制系统，展位为11号馆B126。其系统可实时监测和控制克重、厚度、面密度、水分及密度等参数，通过在线测量与控制减少原材料浪费和废品，提升生产稳定性。
Mahlo NewsAI 摘要AI 评分4444 Mahlo 亮相 Index 无纺布展
Mahlo 将于2026年5月19日至22日在日内瓦 Index 展会展示测量与控制技术，并在4114展位介绍用于测定克重和材料组成的新型辐射测量方案。核心组件 Gravimax MMX-R 传感器平台采用模块化设计，可按应用选择传感器类型，覆盖超轻无纺布至高克重材料。
Semiconductor Engineering · MetrologyAI 摘要AI 评分5454 特色半导体器件发展系列第三篇：如何解决 MEMS、光子器件与共封装光学的工艺控制挑战
MEMS、CMOS 图像传感器、SiC 与 GaN 功率器件及共封装光学（CPO）的工艺控制，可通过跨设备、跨层及跨工序关联量测与检测数据改善。RF BAW 案例将在线厚度量测与逐片修整反馈闭环结合，使晶圆内不均匀性降低一个数量级；功率器件案例结合衬底与外延缺陷图及电阻率测量，识别纵向传播且低电阻率的致命缺陷。
Mahlo NewsAI 摘要AI 评分1212 Mahlo 如何为产业用纺织品提供智能质量控制
Mahlo 在 Techtextil 展会上展示了面向产业用纺织品的智能质量控制方案。其 Orthopac 系统可连续纠正机织物畸变，Qualiscan QMS 用于实时监测并调节无纺布克重，Optipac 和 Ecopac 系统确保预浸料等敏感材料在所需温度范围内加工。
Mahlo NewsAI 摘要AI 评分4949 Mahlo亮相Techtextil，展示测控技术与自动整纬系统
Mahlo将在法兰克福Techtextil展会展示面向产业用纺织品和无纺布的测控技术及自动整纬系统。重点展品Qualiscan QMS可在线测量克重、面密度、厚度、温度及停留时间，并同时采集分析多个数值或材料层。公司还将展示用于未粘合无纺布非接触式在线测量的新型X-ray传感器。