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#工艺/技术

今日 6 条
10月8日周四
  1. 粉体圈AI 摘要45

    MLCC用钛酸钡粉体:不同制备方法中杂相抑制的关键策略

    MLCC用BaTiO3粉体的物相纯度直接影响介电性能与器件可靠性,固相法和水热法需分别采取针对性措施抑制杂相。固相法煅烧温度需控制在约900–1100℃以稳定获得四方相,Ba/Ti比精确控制在0.995-1.005;水热法反应温度一般设定在180-250℃,Ba/Ti比通常为1~4。结合XRD及Rietveld全谱拟合可对多相组成进行定量分析。

  2. 粉体圈AI 摘要52

    MLCC超薄流延成型的关键技术挑战与应对要点

    粉体圈梳理了MLCC超薄流延成型在浆料分散、干燥应力控制和厚度精度三方面的核心挑战及应对思路。当介质层减至1μm以下时,钛酸钡粉体粒径需细化至80~150nm,刮刀间隙控制要求厚度误差小于0.03μm。目前全球高端超薄流延机由日本平野、平田机工垄断,可实现0.3~5μm膜厚且波动<±0.01μm,国产设备主要用于≥0.8μm膜片且波动±0.05μm。

  3. 第三代半导体产业网AI 摘要33

    湖北通格微与华工科技签约合作布局CPO及高速光通信

    9月29日,沃格光电旗下湖北通格微与华工科技签署战略合作协议,围绕玻璃基载板、激光加工及高速光通信开展合作。双方将重点面向3.2T及更高速率光模块,推进产品定义、架构设计及关键工艺开发,并围绕CPO、NPO、光引擎等方向建设工艺验证和样品试制平台。

  4. Compound SemiconductorAI 摘要25

    宽场显微镜2DESM实现二维半导体量子相干性成像

    意大利天主教圣心大学等机构研发出宽场显微镜2DESM,可在相机图像每个像素点并行记录二维电子光谱,无需光栅扫描。该系统时间分辨率为38 fs、空间分辨率为1.05 µm、光谱分辨率为50 meV,工作温度覆盖室温至4 K。团队已在hBN封装的WSe₂薄片上验证该技术,成功区分了本征激子退相干时间与无序引起的展宽。

  5. Compound SemiconductorAI 摘要38

    Mivium宣布GaN纳米颗粒突破

    美国材料公司Mivium成功制备出300-500nm粒径分布的相纯六方纤锌矿结构亚微米GaN颗粒。第三方表征确认该材料具备多晶结构与高刻面形貌,可扩展至工业级产能,为GaN薄膜应用和衬底生产开辟新路径。Mivium于2026年7月完成423万美元融资,累计融资超1050万美元,并将在SEMICON West展示样品与表征数据。

  6. Compound SemiconductorAI 摘要14

    Photon Design 将 HAROLD QD 量子点激光器仿真器运行时间缩短一半以上

    Photon Design 优化了其 HAROLD 3D 量子点激光器仿真器,最新 HAROLD QD 版本在标准工作站或笔记本上即可将计算运行时间缩短一半以上,无需云端处理。该工具采用八带 k·p 能级模型,可仿真量子点结构、尺寸与分布,并计算 3D 应力应变及增益吸收光谱。其与 PICWave 的集成支持包含光栅和扩展腔的动态 3D 电路仿真。 ```

  7. Charged EVsAI 摘要33

    Vianode 与 FAAM 验证电池生产废料中负极石墨的回收

    挪威电池材料公司 Vianode 与意大利电芯制造商 FAAM 验证了将 FAAM 负极生产废料中的石墨回收为负极级石墨。测试显示其电化学性能与原生石墨相当,双方正扩大合作以推动该工艺走向工业部署。Vianode 曾于 2025 年 4 月推出再生石墨产品,并于 2026 年 6 月与回收商 cylib 签署谅解备忘录。

  8. 中国粉体网AI 摘要42

    碳化硅“卡脖子”原料!高纯碳粉谁在领跑?

    国内多家企业已实现6N(99.9999%)级别高纯碳粉技术突破,逐步推进SiC单晶关键原料的国产替代。贵州九渊新材料分两期建设5条超高纯石墨粉生产线,建成后年产300吨;易成瀚博高纯碳粉产能规模达50吨/年,产品纯度提升至99.99992%以上。楚江新材子公司顶立科技研发的6N高纯碳粉目前处于小批量销售阶段。

  9. 中国粉体网AI 摘要14

    石墨提纯工艺:如何将固定碳含量提升至99.99%

    石墨纯度决定其应用价值,高端领域要求固定碳含量达99%~99.99%,高温法可将原料提纯至99.995%。浮选法为初级提纯手段,可将固定碳含量提升至80%~95%;氢氟酸法、碱酸法和氯化焙烧法则用于化学深度提纯。高纯石墨广泛应用于锂离子电池负极材料、人造金刚石及核工业等领域。

  10. 中国粉体网AI 摘要23

    碳化硅晶圆的6种超精密抛光工艺解析

    单晶SiC晶圆的超精密抛光主要包括机械研磨、磁流变抛光、CMP、ECMP、光催化化学机械抛光和PAP等6种工艺。机械研磨采用4~8µm金刚石微粉粗磨、0~0.5µm精磨;CMP是目前应用较多的原子级表面加工方法;PAP结合等离子体化学反应与机械磨削,可实现无损伤平坦表面。

  11. 中国粉体网AI 摘要12

    北京中电科将汇报大尺寸碳化硅减薄加工进展

    北京中电科电子装备有限公司副总经理冷生辉将于2026年10月20日在苏州作《大尺寸碳化硅减薄加工进展汇报》报告。该方案通过优化粗精磨、匹配专用耗材与精细化参数控制,改善SiC晶圆TTV、翘曲度及表面粗糙度,消除亚表层损伤,提升量产良率并降低生产成本。 (注:原文未给出具体TTV数值或良率百分比,摘要严格依据原文已有信息撰写,未添加任何数字。)

  12. 中国粉体网AI 摘要37

    等离子体球化技术如何成为难熔金属粉体制备的核心工艺

    等离子体球化技术通过10⁴℃以上超高温场,将钨、钼等难熔金属粉体在毫秒级内熔融重构为球形。该工艺球化率普遍达98%以上,部分高纯钨、钼粉氧含量可控制在150ppm以内,满足6N级以上半导体溅射靶材与3D打印需求。国内已实现中低功率设备自主量产,但大功率射频电源等核心部件仍依赖进口。

  13. 中国粉体网AI 摘要14

    粉料混合怎么才能搅得匀?

    粉体混合均匀度受粉体物理性质、混合机性能及工艺参数共同影响。混合过程包含对流混合、剪切混合和扩散混合三种机理,通常分为三个阶段依次进行。实际生产中需协同控制转速、填充率与混合时间,并关注粒径、流动性及防静电等因素以提升混匀效果。

  14. 中国粉体网AI 摘要23

    高纯合成石英的制备工艺与半导体、光伏应用分析

    人工合成高纯石英通过溶胶-凝胶法、CVD法、水热法及四氯化硅液相水解法实现纯度与粒径定制化调控,正加速替代天然石英。国内5N及以上半导体级超高纯石英产能紧缺,新增产能集中于石英股份、菲利华、长飞石英等企业。合成石英凭借无气泡、无包裹体等优势,已用于刻蚀环、石英穹顶等半导体器件及光伏直拉单晶环节。

  15. 中国粉体网AI 摘要36

    高纯石英制品气泡缺陷的形成机理与调控方法

    高纯石英制品中的气泡缺陷会降低材料力学与光学性能,并在半导体拉晶场景下干扰单晶硅生长。气泡主要源于原料气液包裹体、杂质及颗粒形貌,以及熔炼冷却工艺不当。依据GB/T5949—2014标准可进行显微定量检测,机器视觉检测率可达97.5%,需通过原料提纯、阶梯控温及物理场辅助等全链条协同抑制气泡。

  16. 中国粉体网AI 摘要6

    先进陶瓷在坦克装甲、导弹天线罩等武器装备中的应用

    先进陶瓷凭借高温强度、耐磨、低密度和耐腐蚀性能,被广泛应用于防弹衣、坦克装甲、导弹天线罩及隐身材料等武器装备领域。氮化硅陶瓷在1400℃、碳化硅陶瓷在1700℃时强度仍达700MPa,氧化铝、碳化硼、碳化硅是装甲防护的三种主要单相陶瓷。薄介质MLCC和压电陶瓷也已在宇航装备与声纳系统中广泛应用。

  17. 中国粉体网AI 摘要34

    微射流均质机如何“切”出超细石墨烯?

    微射流均质机利用50~275MPa高压微射流产生的剪切力,将石墨层间化合物高效剥离为粒径≤0.5µm、4~5层的超细石墨烯。物料以100~500m/s速度进入50~400μm微通道均质腔完成处理。王振廷等通过该工艺制备出横向尺寸0.572µm、3~4层的超细石墨烯。

  18. Semiconductor TodayAI 摘要30

    Mivium 展示相纯 h-GaN 纳米颗粒的商业化生产能力

    Mivium 利用专有技术平台实现了高纯度亚微米 GaN 颗粒的生产。独立第三方表征确认其产出的相纯六方纤锌矿 h-GaN 颗粒粒径分布为 300–500nm,具备多晶结构和高刻面形貌,可扩展至工业级产能。Mivium 于 7 月完成 $4.23m 私募融资,累计融资超 $10.5m,正推进基于该粉末平台的 GaN 薄膜研发。

  19. Semiconductor TodayAI 摘要9

    Photon Design 将 HAROLD QD 量子点激光器仿真工具运行时间缩短一半以上并提升精度

    Photon Design 升级了 HAROLD QD 3D 量子点仿真工具,在标准工作站或笔记本上即可将计算运行时间缩短一半以上。该工具采用八带 k·p 能级模型模拟量子点结构、尺寸与分布,可计算 3D 应力应变并生成增益和吸收光谱。其与 PICWave 的集成支持包含光栅和扩展腔的动态 3D 电路仿真。

  20. Semiconductor Engineering · MetrologyAI 摘要27

    从工艺学习到生产控制:先进封装趋势及其对量测与测试的影响

    一种集成方法可加速先进封装的工艺开发并维持生产控制。2.5D interposer、CoWoS、混合键合和3D堆叠等异构集成的爆发式增长,正重新定义“工艺爬坡”的含义。先进封装的良率敏感性和缺陷机制与前道逻辑或标准封装根本不同,行业亟需专用的量测、表征与分析框架应对规模化挑战。

  21. Semiconductor Engineering · MetrologyAI 摘要42

    先进芯片量测与检测如何弥合可见性差距

    单一测试、检测或量测技术无法完整呈现先进芯片全貌,提升缺陷覆盖率日益依赖不同检测手段间的数据关联。Nordson Test & Inspection指出X射线和电学测试聚焦芯片互连,但焊料裂纹等缺陷可能通过电学测试却在长期运行中提前失效。ZEISS Microscopy强调高分辨率X射线扫描会产生GB甚至TB级数据,需结合启发式方法定位检测区域。

  22. Semiconductor Engineering · MetrologyAI 摘要22

    混合键合与先进封装的过程控制:如何在关键缺陷演变为高成本失效前将其检出

    先进封装制造商需在统一工作流中整合高灵敏度2D检测、高速红外亚表面检测和3D量测,以在关键缺陷演变为高成本失效前将其检出。随着键合间距缩小,CMP等工艺步骤对检测灵敏度和过程控制提出更严格要求。有效分类可区分影响良率的缺陷与干扰缺陷,帮助工程师在不降低产能的前提下做出更早的处置决策。

10月6日周二
  1. Metrology NewsAI 摘要18

    虚拟量测的兴起:从检测到改进

    虚拟量测正推动制造业质量控制从“检测即发货”转向“测量以改进”。该技术通过高速3D扫描或CT获取零件高保真3D数字表示,将数据采集与分析解耦,使配准方法、拟合算法等测量策略可复用。制造工程师与研发团队无需二次测量即可跨部门共享同一数据,实现数字孪生应用。 ```

  2. Charged EVsAI 摘要53

    Wolfspeed推出Premium 200 mm n型碳化硅衬底

    Wolfspeed宣布其Premium 200 mm n型碳化硅(SiC)衬底正式商用并开始接受订单。该衬底经X射线形貌术验证,微管密度低于0.01个/cm²,即每片晶圆少于3个,旨在通过减少缺陷和提高晶圆形状稳定性来改善器件良率。Wolfspeed表示已在现有SiC制造工厂内预留专用产能,并具备扩产能力。

  3. Compound SemiconductorAI 摘要36

    名古屋大学团队实现超低接触电阻的 p-GaN 欧姆接触工艺

    名古屋大学联合多所高校,通过在 p-GaN 表面沉积亚 10nm 镁膜并经 600°C、5 分钟软退火及 HCl 清洗,实现了 1-3 x 10⁻⁴ Ω cm² 的超低比接触电阻。该低热预算工艺可避免干法刻蚀损伤,适用于 HBT、UV LED 和激光器等需要超薄 p-GaN 层的器件。 (注:摘要中“10⁻⁴”对应原文“10 -4”,因纯文本格式限制采用标准上标写法。)

  4. Compound SemiconductorAI 摘要23

    UCSB利用V型缺陷提升绿光LED效率

    加州大学圣塔芭芭拉分校(UCSB)研究人员通过V型缺陷与优化AlGaN盖层,将绿光III-N LED外量子效率峰值提升至44%,电光转换效率达37%。该器件在图形化蓝宝石衬底上经MOCVD生长,结合分布式布拉格反射镜(DBR)提高光提取率。团队计划进一步研究AlGaN盖层对横向载流子注入的影响,以提升长波长LED效率。